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動態(tài)參數(shù)測試

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設備:半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)ITC57300

廠商:ITC

用途:用于測試 Si/SiC/GaNDiode,IGBT,MOSFET動態(tài)交流參數(shù)

測試標準:GJB 128B-20XXIEC 60747-8-2010MIL_STD_750F

技術指標:
1200V/100A,短路電流2500A

測試功能單元:
C57210-R 開關特性測試單元(阻性負載)
ITC57220 反向恢復特性測試單元
ITC57230 柵電荷特性測試單元(MOS
ITC57240 開關特性測試單元(感性負載)
ITC57250 短路特性測試單元


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