設(shè)備:高溫高濕測(cè)試系統(tǒng)HTXB GR3-D
廠商:閱芯科技
用途:要用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗(yàn),比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 H3TRB 試驗(yàn)。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T4937-1995 IV,2 加速穩(wěn)態(tài)濕熱;JESD22-A101D Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test;GJB 150.9A-2009;GJB 1621.7A-2006;GJB 1060.2-1991
技術(shù)指標(biāo):
l 最大工作電壓2000V
l 測(cè)試溫度:室溫-180℃
l ICES檢測(cè)范圍:0-98mA,分辨率0.1μA
l 濕度條件:10%-98%RH,空間均勻性<5%RH
地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓
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